أطلقت شركة هيتاشي للتكنولوجيا العالية مجاهر القوة الذرية AFM100 و AFM100 Plus سهلة الاستخدام

طوكيو ، 17 يونيو 2021 - (JCN Newswire) - أعلنت شركة Hitachi High-Tech Corporation عن إطلاق كل من أنظمة AFM100 و AFM100 Plus - نماذج للمبتدئين والمستوى المتوسط ​​من مجاهر القوة الذرية المدمجة والمتعددة الاستخدامات (AFM) من هيتاشي. تم تصميم هذه الأدوات لتوفير سهولة الاستخدام والموثوقية الفائقة للبحث والتطوير عالي الإنتاجية أو تطبيقات مراقبة الجودة.

AFM100 بلس

AFM هو نوع من مجهر مسبار المسح (SPM) الذي يمسح سطح العينة باستخدام طرف حاد عادةً بنصف قطر بضعة نانومترات (1 نانومتر = 1 / 1,000,000،XNUMX،XNUMX ملليمتر). يمكن أن يوفر AFM كلاً من التصور عالي الدقة لمورفولوجيا السطح ورسم خرائط متزامنة لمختلف الخصائص الفيزيائية الأخرى على المقياس النانوي. لذلك ، يتم استخدام AFM بشكل مكثف للبحث والتطوير العلمي ، فضلاً عن مراقبة الجودة عبر مجموعة واسعة من المجالات الصناعية ، مثل فحص مواد البطاريات وأشباه الموصلات والبوليمرات والكائنات الحية وما إلى ذلك.

قد تستغرق عملية AFM التقليدية وقتًا طويلاً وتتطلب وقتًا طويلاً. يحتوي سير العمل على بعض الخطوات الإلزامية مثل تحميل ناتئ صغير (بعرض 1 مم تقريبًا) يدويًا بملاقط إلى الموقع المستهدف ، وتحديد قوة التفاعل الصحيحة بين الطرف والعينة بالإضافة إلى ضبط سرعة المسح ، وكلها قد تنطوي على تجارب ذهابًا وإيابًا. نتيجة لذلك ، كانت الإنتاجية الإجمالية من بداية إعداد الأداة حتى نهاية الحصول على البيانات منخفضة نسبيًا. بالإضافة إلى ذلك ، يمكن أن تختلف جودة وموثوقية بيانات AFM المكتسبة بشكل كبير من شخص لآخر لأن اختيار نوع مناسب من الكابول وتحسين مجموعة من معلمات التصوير يعتمدان بشكل كبير على خبرة المشغل ومستويات المهارة.

يعالج AFM100 و AFM100 Plus اللذان طورتهما شركة Hitachi High-Tech هذه القضايا ويهدفان إلى زيادة التوسع في تكنولوجيا AFM في المجالات الصناعية والعلمية والبحثية والتطويرية. يوفر كل من AFM100 و AFM100 Plus سهولة قصوى في الاستخدام ويضمنان الاتساق بين المشغل والمشغل. على وجه الخصوص ، يمكن استخدام AFM100 Plus في مجموعة متنوعة من التطبيقات ، بما في ذلك التصوير عالي الدقة للمواد النانوية مثل الجرافين والألياف النانوية الكربونية ، ومراقبة الشكل ثلاثي الأبعاد على مساحات واسعة تتجاوز 3 مم ، وتحليل الخشونة ، وتقييمات الخصائص الفيزيائية.

الفوائد الرئيسية لهذه المنتجات هي كما يلي:

1. تحسين قابلية الاستخدام والموثوقية والإنتاجية الإجمالية

لجعل التحميل / التفريغ الكابولي أسهل بكثير ، تم اعتماد ناتئ مطور حديثًا (1) ويمكنه تحسين قابلية الاستخدام بشكل كبير. بالإضافة إلى ذلك ، تأتي هذه الأدوات مع وظيفة الطيار الآلي التي تعمل تلقائيًا على تحسين معلمات القياس ، والتحكم في قوة التفاعل بين الطرف والعينة ، وضبط سرعة المسح ، وبالتالي تقليل الأخطاء البشرية. لذلك ، يمكن الحصول على البيانات الموثوقة والمتسقة بسهولة. يدعم النظام أيضًا القياس متعدد النقاط باستخدام وصفة ، والتي تتيح جمع البيانات وتخزينها آليًا خلال عملية القياس بأكملها بنقرة واحدة فقط ، وبالتالي يمكن زيادة إجمالي الإنتاجية بشكل كبير.

2. تعزيز الارتباط مع SEM لشركة هيتاشي للتكنولوجيا الفائقة

تستخدم وظيفة وضع العلامات AFM الاختيارية حل S؟ Mic المطور أصلاً من Hitachi High-Tech. S؟ Mic (المسح المجهري الذري والإلكتروني) هي تقنية تصوير مترابطة تعمل على تحسين التوافق بين AFM ومجاهر المسح الإلكتروني (SEM). على وجه التحديد ، يمكن استخدام كل من AFM و SEM لفحص العينة في نفس المواقع ، مما يتيح نهجًا تحليليًا متعدد الأوجه ومنصات لتحقيق توصيفات شاملة للخصائص الميكانيكية والكهربائية والتركيبية للعينة.

3. قابلة للتطوير ودائم

يأتي النظام مع تنزيل مجاني مدى الحياة لبرامج التحكم الجديدة ووظيفة الفحص الذاتي التي يمكنها تلقائيًا تشخيص السبب الجذري للأعطال بشكل قياسي ، مما يساهم في إطالة عمر الخدمة للمستخدمين. هذا يسمح للمستخدمين بالحفاظ على أجهزتهم محدثة وأدائها على أعلى مستوى.

تلتزم Hitachi High-Tech بتطوير حلول مبتكرة مثل منتجات AFM هذه ، وإنشاء قيم اجتماعية وبيئية مع عملائنا ، فضلاً عن المساهمة في التصنيع المتطور.

(1) ناتئ مثبت مسبقًا: تستخدم هذه الطريقة شريحة كاسيت مع ناتئ مثبت مسبقًا لتركيب الرافعة.

المصدر: https://www.jcnnewswire.com/pressrelease/67387/3/