Hitachi High-Tech bringt die benutzerfreundlichen Rasterkraftmikroskope AFM100 und AFM100 Plus auf den Markt

TOKYO, 17. Juni 2021 – (JCN Newswire) – Hitachi High-Tech Corporation kündigte die Markteinführung der Systeme AFM100 und AFM100 Plus an – Einstiegs- und Zwischenmodelle der kompakten und vielseitigen Rasterkraftmikroskope (AFM) von Hitachi. Diese Tools wurden entwickelt, um Benutzerfreundlichkeit und überlegene Zuverlässigkeit für F&E- oder Qualitätskontrollanwendungen mit hohem Durchsatz zu bieten.

AFM100Plus

Das AFM ist eine Art des Rastersondenmikroskops (SPM), das die Oberfläche einer Probe mit einer scharfen Spitze mit einem Radius von typischerweise wenigen Nanometern (1 Nanometer = 1/1,000,000 Millimeter) abtastet. Das AFM kann sowohl eine hochauflösende Visualisierung der Oberflächenmorphologie als auch eine gleichzeitige Kartierung verschiedener anderer physikalischer Eigenschaften auf der Nanoskala bereitstellen. Daher wird das AFM intensiv für die wissenschaftliche Forschung und Entwicklung sowie die Qualitätskontrolle in einer Vielzahl von Industriebereichen eingesetzt, wie z.B. bei der Untersuchung von Batteriematerialien, Halbleitern, Polymeren, lebenden Organismen usw.

Der konventionelle AFM-Betrieb kann ziemlich zeitaufwendig und anspruchsvoll sein. Der Arbeitsablauf beinhaltet einige obligatorische Schritte wie das manuelle Laden eines winzigen Cantilevers (ca. 1 mm breit) mit einer Pinzette an die Zielposition, das Bestimmen der richtigen Interaktionskraft zwischen Spitze und Probe sowie das Anpassen der Scangeschwindigkeit, die alle können Hin- und Herversuche beinhalten. Dadurch war der Gesamtdurchsatz vom Beginn der Werkzeugeinrichtung bis zum Ende der Datenerfassung relativ gering. Darüber hinaus können sowohl die Qualität als auch die Zuverlässigkeit der erfassten AFM-Daten von Person zu Person erheblich variieren, da die Auswahl eines geeigneten Auslegertyps und die Optimierung einer Reihe von Bildgebungsparametern stark von der Erfahrung und den Fähigkeiten des Bedieners abhängen.

Die von Hitachi High-Tech entwickelten AFM100 und AFM100 Plus adressieren diese Probleme und zielen darauf ab, die Verbreitung der AFM-Technologie in Industrie, Wissenschaft und Forschung und Entwicklung zu steigern. Sowohl das AFM100 als auch das AFM100 Plus bieten eine extreme Benutzerfreundlichkeit und gewährleisten die Konsistenz von Bediener zu Bediener. Insbesondere kann der AFM100 Plus in einer Vielzahl von Anwendungen eingesetzt werden, einschließlich hochauflösender Bildgebung von Nanomaterialien wie Graphen und Kohlenstoff-Nanofasern, 3D-Formbeobachtung über weite Bereiche von mehr als 0.1 mm, Rauheitsanalyse und Bewertung der physikalischen Eigenschaften.

Die wichtigsten Vorteile dieser Produkte sind:

1. Verbesserte Benutzerfreundlichkeit, Zuverlässigkeit und Gesamtdurchsatz

Um das Be- und Entladen des Cantilevers zu erleichtern, wurde ein neu entwickelter vormontierter Cantilever(1) verwendet, der die Benutzerfreundlichkeit erheblich verbessern kann. Darüber hinaus verfügen diese Instrumente über eine Autopilot-Funktion, die automatisch die Messparameter optimiert, die Interaktionskraft zwischen Spitze und Probe steuert und die Scangeschwindigkeit anpasst, wodurch menschliche Fehler reduziert werden. Daher kann eine zuverlässige und konsistente Datenerfassung leicht realisiert werden. Das System unterstützt auch die Mehrpunktmessung mit Rezeptur, die eine automatisierte Datenerfassung und -speicherung während des gesamten Messvorgangs mit nur einem Klick ermöglicht und somit den Gesamtdurchsatz drastisch steigern kann.

2. Verbesserte Korrelation mit Hitachi High-Techs SEM

Die optionale AFM-Markierungsfunktion verwendet die ursprünglich von Hitachi High-Tech entwickelte S?Mic-Lösung. S?Mic (Scanning Atomic and Electron Microscopy) ist eine korrelierte Bildgebungstechnik, die die Kompatibilität zwischen AFM und Rasterelektronenmikroskopen (REM) verbessert. Insbesondere können sowohl das AFM als auch das SEM verwendet werden, um die Probe an denselben Orten zu untersuchen, was einen plattformübergreifenden, facettenreichen analytischen Ansatz ermöglicht, um umfassende Charakterisierungen der mechanischen, elektrischen und Zusammensetzungseigenschaften der Probe zu erreichen.

3. Skalierbar und langlebig

Das System wird standardmäßig mit dem lebenslangen kostenlosen Download neuer Steuerungssoftware und einer Selbsttestfunktion geliefert, die die Ursache von Störungen automatisch diagnostizieren kann, was zu einer langen Lebensdauer für die Benutzer beiträgt. Dies ermöglicht es den Benutzern, ihre Geräte auf dem neuesten Stand zu halten und auf höchstem Niveau zu arbeiten.

Hitachi High-Tech ist bestrebt, innovative Lösungen wie diese AFM-Produkte zu entwickeln, gemeinsam mit unseren Kunden soziale und ökologische Werte zu schaffen und zu einer hochmodernen Fertigung beizutragen.

(1) Vormontierter Ausleger: Dieses Verfahren verwendet einen Kassettenchip mit einem vorinstallierten Ausleger für die Hebelmontage.

Quelle: https://www.jcnnewswire.com/pressrelease/67387/3/