Hitachi High-Tech lanza los microscopios de fuerza atómica AFM100 y AFM100 Plus fáciles de usar

TOKIO, 17 de junio de 2021 - (JCN Newswire) - Hitachi High-Tech Corporation anunció el lanzamiento de los sistemas AFM100 y AFM100 Plus: modelos de nivel de entrada y de nivel intermedio de los microscopios de fuerza atómica (AFM) compactos y versátiles de Hitachi. Estas herramientas están diseñadas para ofrecer facilidad de uso y confiabilidad superior para aplicaciones de I + D o control de calidad de alto rendimiento.

AFM100 más

El AFM es un tipo de microscopio de sonda de barrido (SPM) que explora la superficie de una muestra utilizando una punta afilada, normalmente con un radio de unos pocos nanómetros (1 nanómetro = 1 / 1,000,000 de milímetro). El AFM puede proporcionar visualización de alta resolución de la morfología de la superficie y mapeo simultáneo de varias otras propiedades físicas a nanoescala. Por lo tanto, el AFM se utiliza intensamente para la investigación y el desarrollo científicos, así como para el control de calidad en una amplia gama de campos industriales, como el examen de materiales de baterías, semiconductores, polímeros, organismos vivos, etc.

La operación de AFM convencional puede llevar mucho tiempo y ser exigente. El flujo de trabajo contiene algunos pasos obligatorios, como cargar un pequeño voladizo (aproximadamente 1 mm de ancho) manualmente con una pinza en la ubicación de destino, determinar la fuerza de interacción correcta entre la punta y la muestra, así como ajustar la velocidad de escaneo, todo lo cual puede implican ensayos de ida y vuelta. Como resultado, el rendimiento general desde el inicio de la configuración de la herramienta hasta el final de la adquisición de datos fue relativamente bajo. Además, tanto la calidad como la confiabilidad de los datos AFM adquiridos pueden variar significativamente de una persona a otra, ya que la selección de un tipo apropiado de voladizos y la optimización de una variedad de parámetros de imagen dependen en gran medida de la experiencia y los niveles de habilidad del operador.

Los modelos AFM100 y AFM100 Plus desarrollados por Hitachi High-Tech abordan estos problemas y tienen como objetivo aumentar la expansión de la tecnología AFM en los campos industrial, científico y de investigación y desarrollo. Tanto el AFM100 como el AFM100 Plus ofrecen una extrema facilidad de uso y garantizan la coherencia entre operadores. En particular, el AFM100 Plus se puede utilizar en una amplia variedad de aplicaciones, que incluyen imágenes de alta resolución de nanomateriales como grafeno y nanofibras de carbono, observación de formas 3D en áreas amplias que superan los 0.1 mm, análisis de rugosidad y evaluaciones de propiedades físicas.

Los beneficios clave de estos productos son los siguientes:

1. Mayor facilidad de uso, confiabilidad y rendimiento total

Para facilitar la carga / descarga en voladizo, se ha adoptado un voladizo premontado de nuevo desarrollo (1) que puede mejorar significativamente la usabilidad. Además, estos instrumentos vienen con una función de piloto automático que optimiza automáticamente los parámetros de medición, controla la fuerza de interacción entre la punta y la muestra y ajusta la velocidad de escaneo, reduciendo así los errores humanos. Por lo tanto, la adquisición de datos confiable y consistente se puede realizar fácilmente. El sistema también admite la medición multipunto con una receta, lo que permite la recopilación y el almacenamiento de datos automatizados durante todo el proceso de medición con un solo clic, por lo que el rendimiento total se puede aumentar drásticamente.

2. Correlación mejorada con SEM de Hitachi High-Tech

La función de marcado AFM opcional utiliza la solución S? Mic desarrollada originalmente por Hitachi High-Tech. S? Mic (microscopía electrónica y atómica de barrido) es una técnica de imagen correlacionada que mejora la compatibilidad entre el AFM y los microscopios electrónicos de barrido (SEM). Específicamente, tanto el AFM como el SEM se pueden usar para examinar la muestra en las mismas ubicaciones, lo que permite un enfoque analítico multiplataforma y multifacético para lograr caracterizaciones completas de las propiedades mecánicas, eléctricas y de composición de la muestra.

3. Escalable y duradero

El sistema viene con la descarga gratuita de por vida de un nuevo software de control y una función de autocomprobación que puede diagnosticar automáticamente la causa raíz de las fallas como estándar, lo que contribuye a una larga vida útil para los usuarios. Esto permite a los usuarios mantener su equipo actualizado y funcionando al más alto nivel.

Hitachi High-Tech se compromete a desarrollar soluciones innovadoras como estos productos AFM, creando valores sociales y medioambientales junto con nuestros clientes, además de contribuir a la fabricación de vanguardia.

(1) Voladizo premontado: este método utiliza un chip de casete con un voladizo preinstalado para el montaje de la palanca.

Fuente: https://www.jcnnewswire.com/pressrelease/67387/3/