هیتاچی با فناوری پیشرفته میکروسکوپ نیروی اتمی با کاربرد آسان AFM100 و AFM100 Plus را راه اندازی کرد.

توکیو، 17 ژوئن 2021 – (JCN Newswire) – شرکت فناوری پیشرفته هیتاچی از راه اندازی هر دو سیستم AFM100 و AFM100 Plus – مدل های سطح ابتدایی و متوسط ​​میکروسکوپ های نیروی اتمی فشرده و همه کاره هیتاچی (AFM) خبر داد. این ابزارها به گونه ای طراحی شده اند که سهولت استفاده و قابلیت اطمینان برتر را برای برنامه های تحقیق و توسعه با توان بالا یا برنامه های کنترل کیفیت ارائه دهند.

AFM100 Plus

AFM نوعی از میکروسکوپ کاوشگر روبشی (SPM) است که سطح نمونه را با استفاده از نوک تیز معمولاً با شعاع چند نانومتر (1 نانومتر = 1/1,000,000 میلی متر) اسکن می کند. AFM می تواند هم تجسم با وضوح بالا از مورفولوژی سطح و هم نقشه برداری همزمان از خواص فیزیکی مختلف در مقیاس نانو را ارائه دهد. بنابراین، AFM به شدت برای تحقیق و توسعه علمی، و همچنین کنترل کیفیت در طیف گسترده‌ای از زمینه‌های صنعتی، مانند بررسی مواد باتری، نیمه‌رساناها، پلیمرها، موجودات زنده و غیره استفاده می‌شود.

عملیات AFM معمولی می تواند زمان بر و سخت باشد. گردش کار شامل برخی از مراحل اجباری مانند بارگذاری یک کنسول کوچک (تقریباً به عرض 1 میلی متر) به صورت دستی با موچین در محل مورد نظر، تعیین نیروی برهمکنش مناسب بین نوک و نمونه و همچنین تنظیم سرعت اسکن است که همه اینها ممکن است شامل آزمایش های رفت و برگشتی می شود. در نتیجه، توان عملیاتی کلی از ابتدای راه‌اندازی ابزار تا پایان جمع‌آوری داده‌ها نسبتاً کم بود. علاوه بر این، هم کیفیت و هم قابلیت اطمینان داده‌های AFM به‌دست‌آمده می‌تواند به‌طور قابل‌توجهی از فردی به فرد دیگر متفاوت باشد، زیرا انتخاب نوع مناسب کنسول و بهینه‌سازی مجموعه‌ای از پارامترهای تصویربرداری به شدت به تجربه و سطح مهارت اپراتور بستگی دارد.

AFM100 و AFM100 Plus که توسط Hitachi High-Tech توسعه یافته اند به این مسائل می پردازند و هدف آن افزایش گسترش فناوری AFM در زمینه های صنعتی، علمی و تحقیق و توسعه است. AFM100 و AFM100 Plus هر دو سهولت استفاده را به ارمغان می آورند و از سازگاری اپراتور به اپراتور اطمینان می دهند. به ویژه، AFM100 Plus را می توان در طیف گسترده ای از برنامه ها، از جمله تصویربرداری با وضوح بالا از نانومواد مانند گرافن و نانوالیاف کربن، مشاهده شکل سه بعدی در مناطق وسیع بیش از 3 میلی متر، تجزیه و تحلیل زبری، و ارزیابی ویژگی های فیزیکی مورد استفاده قرار داد.

مهمترین مزایای این محصولات به شرح زیر است:

1. بهبود قابلیت استفاده، قابلیت اطمینان و توان کل

برای آسان‌تر کردن بارگیری/تخلیه کنسول، یک کنسول از پیش نصب‌شده جدید (1) استفاده شده است و می‌تواند قابلیت استفاده را به طور قابل توجهی بهبود بخشد. علاوه بر این، این ابزار دارای یک عملکرد خلبان خودکار است که به طور خودکار پارامترهای اندازه گیری را بهینه می کند، نیروی تعامل بین نوک و نمونه را کنترل می کند و سرعت اسکن را تنظیم می کند و در نتیجه خطاهای انسانی را کاهش می دهد. بنابراین، جمع‌آوری داده‌های قابل اعتماد و سازگار به آسانی قابل تحقق است. این سیستم همچنین از اندازه‌گیری چند نقطه‌ای با دستور غذا پشتیبانی می‌کند، که جمع‌آوری و ذخیره‌سازی خودکار داده‌ها را در کل فرآیند اندازه‌گیری تنها با یک کلیک امکان‌پذیر می‌کند، بنابراین کل توان عملیاتی را می‌توان به طور چشمگیری افزایش داد.

2. افزایش همبستگی با SEM هیتاچی

عملکرد علامت گذاری اختیاری AFM از راه حل S?Mic هیتاچی High-Tech استفاده می کند. S?Mic (میکروسکوپ اتمی و الکترونی روبشی) یک تکنیک تصویربرداری همبسته است که سازگاری بین AFM و میکروسکوپ های الکترونی روبشی (SEM) را بهبود می بخشد. به طور خاص، هر دو AFM و SEM می‌توانند برای بررسی نمونه در مکان‌های مشابه استفاده شوند، که یک رویکرد تحلیلی چند وجهی و چند وجهی را برای دستیابی به خصوصیات جامع خواص مکانیکی، الکتریکی و ترکیبی نمونه را قادر می‌سازد.

3. مقیاس پذیر و بادوام

این سیستم با دانلود رایگان مادام العمر نرم افزار کنترلی جدید و یک عملکرد خود-بررسی ارائه می شود که به طور استاندارد می تواند به طور خودکار علت اصلی خرابی ها را تشخیص دهد و به عمر طولانی برای کاربران کمک کند. این به کاربران اجازه می دهد تا تجهیزات خود را به روز نگه دارند و در بالاترین سطح خود کار کنند.

Hitachi High-Tech متعهد به توسعه راه‌حل‌های نوآورانه مانند این محصولات AFM، ایجاد ارزش‌های اجتماعی و زیست‌محیطی همراه با مشتریان خود و همچنین مشارکت در تولید پیشرفته است.

(1) کنسول از پیش نصب شده: در این روش از یک تراشه کاست با یک کنسول از پیش نصب شده برای نصب اهرم استفاده می شود.

منبع: https://www.jcnnewswire.com/pressrelease/67387/3/