A Hitachi High-Tech elindítja a könnyen használható AFM100 és AFM100 Plus Atomic Force mikroszkópokat, a PlatoBlockchain Data Intelligence-t. Függőleges keresés. Ai.

A Hitachi High-Tech piacra dobja az egyszerűen használható AFM100 és AFM100 Plus Atomic Force mikroszkópokat

TOKIÓ, 17. június 2021. – (JCN Newswire) – A Hitachi High-Tech Corporation bejelentette az AFM100 és az AFM100 Plus rendszerek piacra dobását – a Hitachi kompakt és sokoldalú Atomic Force Microscope (AFM) belépő szintű és középszintű modelljeit. Ezeket az eszközöket úgy tervezték, hogy könnyű használatot és kiemelkedő megbízhatóságot kínáljanak a nagy teljesítményű K+F vagy minőségellenőrzési alkalmazásokhoz.

A Hitachi High-Tech elindítja a könnyen használható AFM100 és AFM100 Plus Atomic Force mikroszkópokat, a PlatoBlockchain Data Intelligence-t. Függőleges keresés. Ai.
AFM100 Plus

Az AFM a pásztázó szonda mikroszkóp (SPM) egy típusa, amely a minta felületét tipikusan néhány nanométer sugarú éles hegy segítségével pásztázza (1 nanométer = 1/1,000,000 XNUMX XNUMX milliméter). Az AFM lehetővé teszi a felületi morfológia nagy felbontású megjelenítését és a különböző egyéb fizikai tulajdonságok egyidejű feltérképezését nanoskálán. Ezért az AFM-et intenzíven használják tudományos kutatásra és fejlesztésre, valamint minőség-ellenőrzésre számos ipari területen, például akkumulátorok, félvezetők, polimerek, élő szervezetek stb. vizsgálatára.

A hagyományos AFM működés meglehetősen idő- és igényes lehet. A munkafolyamat tartalmaz néhány kötelező lépést, mint például egy apró (körülbelül 1 mm széles) konzol kézi behelyezése csipesszel a célhelyre, a hegy és a minta közötti megfelelő kölcsönhatási erő meghatározása, valamint a pásztázási sebesség beállítása. oda-vissza próbákat foglal magában. Ennek eredményeként a teljes átviteli sebesség a szerszámbeállítás kezdetétől az adatgyűjtés végéig viszonylag alacsony volt. Ezenkívül a megszerzett AFM adatok minősége és megbízhatósága személyenként jelentősen eltérhet, mivel a megfelelő típusú konzolok kiválasztása és a képalkotó paraméterek tömbjének optimalizálása nagymértékben függ a kezelő tapasztalatától és képzettségi szintjétől.

A Hitachi High-Tech által kifejlesztett AFM100 és AFM100 Plus ezeket a problémákat oldja meg, és célja az AFM technológia kiterjesztésének fokozása az ipari, tudományos, valamint a kutatás-fejlesztési területeken. Mind az AFM100, mind az AFM100 Plus rendkívül egyszerű használatot tesz lehetővé, és biztosítja a kezelők közötti konzisztenciát. Az AFM100 Plus különösen sokféle alkalmazásban használható, beleértve a nanoanyagok, például a grafén és a szén nanoszálak nagy felbontású képalkotását, a 3 mm-t meghaladó széles területek 0.1D alakmegfigyelését, az érdességelemzést és a fizikai tulajdonságok értékelését.

E termékek fő előnyei a következők:

1. Jobb használhatóság, megbízhatóság és teljes átviteli sebesség

A konzolos be- és kirakodás megkönnyítése érdekében egy új fejlesztésű előre szerelt konzolt(1) alkalmaztak, amely jelentősen javíthatja a használhatóságot. Ezen túlmenően ezek a műszerek egy autopilot funkcióval is rendelkeznek, amely automatikusan optimalizálja a mérési paramétereket, szabályozza a csúcs és a minta közötti kölcsönhatási erőt, valamint beállítja a pásztázási sebességet, így csökkentve az emberi hibákat. Ezért könnyen megvalósítható megbízható és következetes adatgyűjtés. A rendszer támogatja a többpontos, receptúrás mérést is, amely egyetlen kattintással lehetővé teszi az automatizált adatgyűjtést és -tárolást a teljes mérési folyamat során, így a teljes áteresztőképesség látványosan növelhető.

2. Fokozott korreláció a Hitachi High-Tech SEM-jével

Az opcionális AFM jelölés funkció a Hitachi High-Tech eredetileg kifejlesztett S?Mic megoldását használja. Az S?Mic (Scanning Atomic and Electron Microscopy) egy korrelált képalkotási technika, amely javítja az AFM és a pásztázó elektronmikroszkópok (SEM) kompatibilitását. Pontosabban, mind az AFM, mind a SEM használható a minta ugyanazokon a helyeken történő vizsgálatára, ami lehetővé teszi a többplatformos, sokoldalú analitikai megközelítést a minta mechanikai, elektromos és összetételi tulajdonságainak átfogó jellemzésére.

3. Méretezhető és tartós

A rendszerhez az élethosszig tartó ingyenes új vezérlőszoftver és egy önellenőrző funkció tartozik, amely alapfelszereltségként képes diagnosztizálni a meghibásodások kiváltó okát, hozzájárulva a felhasználók hosszú élettartamához. Ez lehetővé teszi a felhasználók számára, hogy berendezéseiket naprakészen tartsák és a legmagasabb szinten teljesítsék.

A Hitachi High-Tech elkötelezett aziránt, hogy innovatív megoldásokat fejlesszen ki, mint például ezek az AFM termékek, ügyfeleinkkel közösen teremtsenek társadalmi és környezeti értékeket, valamint hozzájáruljanak az élvonalbeli gyártáshoz.

(1) Előre szerelt konzol: Ez a módszer kazettás chipet használ előre telepített konzollal az emelőkaros rögzítéshez.

Forrás: https://www.jcnnewswire.com/pressrelease/67387/3/

Időbélyeg:

Még több JCN Newswire