Hitachi High-Tech lancia i microscopi a forza atomica AFM100 e AFM100 Plus facili da usare

TOKYO, 17 giugno 2021 – (JCN Newswire) – Hitachi High-Tech Corporation ha annunciato il lancio dei sistemi AFM100 e AFM100 Plus, modelli entry-level e di livello intermedio dei microscopi a forza atomica (AFM) compatti e versatili di Hitachi. Questi strumenti sono progettati per offrire facilità d'uso e affidabilità superiore per applicazioni di ricerca e sviluppo o controllo qualità ad alta produttività.

AFM100 più

L'AFM è un tipo di microscopio a sonda a scansione (SPM) che esegue la scansione della superficie di un campione utilizzando una punta affilata tipicamente con un raggio di pochi nanometri (1 nanometro = 1/1,000,000 di millimetro). L'AFM può fornire sia la visualizzazione ad alta risoluzione della morfologia superficiale che la mappatura simultanea di varie altre proprietà fisiche su scala nanometrica. Pertanto, l'AFM viene utilizzato intensamente per la ricerca scientifica e lo sviluppo, nonché per il controllo della qualità in un'ampia gamma di settori industriali, come l'esame di materiali per batterie, semiconduttori, polimeri, organismi viventi, ecc.

L'operazione AFM convenzionale potrebbe richiedere molto tempo e richiedere molto tempo. Il flusso di lavoro contiene alcuni passaggi obbligatori come il caricamento manuale di un minuscolo cantilever (largo circa 1 mm) con una pinzetta nella posizione di destinazione, la determinazione della giusta forza di interazione tra la punta e il campione e la regolazione della velocità di scansione, il che può coinvolgere avanti e indietro le prove. Di conseguenza, il rendimento complessivo dall'inizio della configurazione dello strumento alla fine dell'acquisizione dei dati è stato relativamente basso. Inoltre, sia la qualità che l'affidabilità dei dati AFM acquisiti possono variare in modo significativo da persona a persona poiché la selezione di un tipo appropriato di cantilever e l'ottimizzazione di una serie di parametri di imaging dipendono fortemente dall'esperienza e dai livelli di abilità dell'operatore.

L'AFM100 e l'AFM100 Plus sviluppati da Hitachi High-Tech affrontano questi problemi e mirano ad aumentare l'espansione della tecnologia AFM nei campi industriale, scientifico e di ricerca e sviluppo. Sia l'AFM100 che l'AFM100 Plus offrono un'estrema facilità d'uso e garantiscono la coerenza tra operatori. In particolare, l'AFM100 Plus può essere utilizzato in un'ampia varietà di applicazioni, tra cui l'imaging ad alta risoluzione di nanomateriali come grafene e nanofibre di carbonio, osservazione della forma 3D su ampie aree superiori a 0.1 mm, analisi della rugosità e valutazioni delle proprietà fisiche.

I principali vantaggi di questi prodotti sono i seguenti:

1. Migliore usabilità, affidabilità e throughput totale through

Per rendere molto più semplice il carico/scarico del cantilever, è stato adottato un cantilever premontato di nuova concezione (1) che può migliorare significativamente l'usabilità. Inoltre, questi strumenti sono dotati di una funzione di pilota automatico che ottimizza automaticamente i parametri di misurazione, controlla la forza di interazione tra la punta e il campione e regola la velocità di scansione, riducendo così gli errori umani. Pertanto, è possibile realizzare facilmente un'acquisizione dati affidabile e coerente. Il sistema supporta anche la misurazione multi-punto con una ricetta, che consente la raccolta e l'archiviazione automatizzata dei dati durante l'intero processo di misurazione con un solo clic, quindi la produttività totale può essere notevolmente aumentata.

2. Migliore correlazione con SEM di Hitachi High-Tech

La funzione di marcatura AFM opzionale utilizza la soluzione S?Mic originariamente sviluppata da Hitachi High-Tech. S?Mic (Scanning Atomic and Electron Microscopy) è una tecnica di imaging correlata che migliora la compatibilità tra AFM e microscopi elettronici a scansione (SEM). In particolare, sia l'AFM che il SEM possono essere utilizzati per esaminare il campione nelle stesse posizioni, il che consente un approccio analitico multipiattaforma e multiforme per ottenere caratterizzazioni complete delle proprietà meccaniche, elettriche e di composizione del campione.

3. Scalabile e durevole

Il sistema viene fornito con il download gratuito a vita del nuovo software di controllo e una funzione di autocontrollo in grado di diagnosticare automaticamente la causa principale dei malfunzionamenti di serie, contribuendo a una lunga durata per gli utenti. Ciò consente agli utenti di mantenere la propria attrezzatura aggiornata e con prestazioni al massimo livello.

Hitachi High-Tech è impegnata nello sviluppo di soluzioni innovative come questi prodotti AFM, creando valori sociali e ambientali insieme ai nostri clienti, oltre a contribuire a una produzione all'avanguardia.

(1) Cantilever premontato: questo metodo utilizza un chip a cassetta con un cantilever preinstallato per il montaggio della leva.

Fonte: https://www.jcnnewswire.com/pressrelease/67387/3/