東京、17年2021月100日 – (JCN Newswire) – 株式会社日立ハイテクは、日立のコンパクトで汎用性の高い原子間力顕微鏡（AFM）のエントリーレベルおよび中級レベルのモデルであるAFM100およびAFMXNUMX Plusシステムの両方の発売を発表しました。これらのツールは、高スループットの研究開発または品質管理アプリケーションに使いやすさと優れた信頼性を提供するように設計されています。
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| AFM100プラス |
AFM は走査型プローブ顕微鏡 (SPM) の一種で、通常は半径数ナノメートル (1 ナノメートル = 1/1,000,000 ミリメートル) の鋭い先端を使用してサンプルの表面を走査します。 AFM は、表面形態の高解像度視覚化と、ナノスケールでの他のさまざまな物理的特性の同時マッピングの両方を提供できます。そのため、AFMは電池材料、半導体、ポリマー、生体などの検査など、幅広い産業分野で科学の研究開発や品質管理に重点的に利用されています。
従来の AFM 操作は非常に時間がかかり、要求が厳しい場合がありました。ワークフローには、ピンセットを使用して小さなカンチレバー (幅約 1 mm) を手動でターゲット位置にロードし、チップとサンプルの間の適切な相互作用力を決定し、スキャン速度を調整するなど、いくつかの必須ステップが含まれています。往復のトライアルが含まれます。その結果、ツールのセットアップの開始からデータ収集の終了までの全体的なスループットは比較的低くなりました。さらに、適切なタイプのカンチレバーの選択と一連のイメージングパラメータの最適化はオペレーターの経験とスキルレベルに大きく依存するため、取得される AFM データの品質と信頼性は人によって大きく異なります。
日立ハイテクが開発したAFM100およびAFM100 Plusは、これらの課題に対処し、産業、科学、研究開発分野におけるAFM技術のさらなる拡大を目指します。 AFM100 と AFM100 Plus はどちらも非常に使いやすく、オペレーター間の一貫性を保証します。特にAFM100 Plusは、グラフェンやカーボンナノファイバーなどのナノマテリアルの高解像度イメージング、3mmを超える広範囲の0.1次元形状観察、粗さ解析、物性評価など幅広い用途に活用できます。
これらの製品の主な利点は次のとおりです。
1. 使いやすさ、信頼性、トータルスループットの向上
カンチレバーのロード・アンロードをより容易にするために、新開発のプリマウントカンチレバー(1)を採用し、操作性を大幅に向上させました。さらに、これらの機器には、測定パラメータを自動的に最適化し、チップとサンプルの間の相互作用力を制御し、スキャン速度を調整するオートパイロット機能が搭載されているため、人為的エラーが削減されます。したがって、信頼性の高い一貫したデータ取得を容易に実現することができる。また、レシピによる多点測定にも対応しており、ワンクリックで測定プロセス全体の自動データ収集・保存が可能となり、トータルスループットが大幅に向上します。
2. 日立ハイテク社SEMとの連携強化
オプションのAFMマーキング機能には、日立ハイテクが独自に開発したS?Micソリューションを採用しています。 S?Mic (走査型原子電子顕微鏡) は、AFM と走査型電子顕微鏡 (SEM) の間の互換性を向上させる相関イメージング技術です。具体的には、AFM と SEM の両方を使用して同じ場所でサンプルを検査できるため、クロスプラットフォームで多面的な分析アプローチを使用して、サンプルの機械的、電気的、および組成的特性の包括的な特性評価を行うことができます。
3.スケーラブルで耐久性
新しい制御ソフトウェアの永久無償ダウンロードや、故障の根本原因を自動診断するセルフチェック機能を標準搭載しており、ユーザーの長寿命化に貢献します。これにより、ユーザーは機器を最新の状態に保ち、最高レベルのパフォーマンスを維持することができます。
日立ハイテクは、今後もこのAFM製品をはじめとした革新的なソリューションの開発に取り組み、お客様とともに社会価値・環境価値を創造し、最先端のものづくりに貢献してまいります。
(1) プレマウントカンチレバー: この方法では、レバーマウント用のカンチレバーがプレインストールされたカセットチップを使用します。
