Hitachi High-Tech lanceert de gebruiksvriendelijke AFM100 en AFM100 Plus Atomic Force-microscopen

TOKYO, 17 juni 2021 – (JCN Newswire) – Hitachi High-Tech Corporation kondigt de lancering aan van zowel AFM100- als AFM100 Plus-systemen – instapmodellen en tussenmodellen van Hitachi's compacte en veelzijdige Atomic Force Microscopes (AFM). Deze tools zijn ontworpen om gebruiksgemak en superieure betrouwbaarheid te bieden voor R&D- of kwaliteitscontroletoepassingen met hoge doorvoer.

AFM100Plus

De AFM is een type Scanning Probe Microscope (SPM) die het oppervlak van een monster scant met een scherpe punt, meestal met een straal van enkele nanometers (1 nanometer = 1/1,000,000 millimeter). De AFM kan zowel visualisatie van oppervlaktemorfologie met hoge resolutie bieden als gelijktijdige mapping van verschillende andere fysieke eigenschappen op nanoschaal. Daarom wordt de AFM intensief gebruikt voor wetenschappelijk onderzoek en ontwikkeling, evenals voor kwaliteitscontrole op een breed scala van industriële gebieden, zoals het onderzoeken van batterijmaterialen, halfgeleiders, polymeren, levende organismen, enz.

Conventionele AFM-operaties kunnen behoorlijk tijdrovend en veeleisend zijn. De workflow bevat enkele verplichte stappen, zoals het handmatig laden van een kleine cantilever (ongeveer 1 mm breed) met een pincet naar de doellocatie, het bepalen van de juiste interactiekracht tussen de tip en het monster en het aanpassen van de scansnelheid, die allemaal kunnen heen en weer proberen te betrekken. Als gevolg hiervan was de algehele doorvoer vanaf het begin van de gereedschapsconfiguratie tot het einde van de gegevensverzameling relatief laag. Bovendien kunnen zowel de kwaliteit als de betrouwbaarheid van de verkregen AFM-gegevens aanzienlijk verschillen van persoon tot persoon, aangezien het selecteren van een geschikt type cantilevers en het optimaliseren van een reeks beeldparameters in hoge mate afhankelijk zijn van de ervaring en vaardigheidsniveaus van de operator.

De AFM100 en AFM100 Plus, ontwikkeld door Hitachi High-Tech, pakken deze problemen aan en zijn bedoeld om de uitbreiding van AFM-technologie op industrieel, wetenschappelijk en onderzoeks- en ontwikkelingsgebied te vergroten. Zowel de AFM100 als de AFM100 Plus zorgen voor extreem gebruiksgemak en zorgen voor consistentie van operator tot operator. De AFM100 Plus kan met name worden gebruikt in een breed scala aan toepassingen, waaronder beeldvorming met hoge resolutie van nanomaterialen zoals grafeen en koolstofnanovezels, 3D-vormobservatie over grote gebieden van meer dan 0.1 mm, ruwheidsanalyse en evaluaties van fysieke eigenschappen.

De belangrijkste voordelen van deze producten zijn als volgt:

1. Verbeterde bruikbaarheid, betrouwbaarheid en totale doorvoer

Om het laden/lossen van de cantilever veel gemakkelijker te maken, is een nieuw ontwikkelde voorgemonteerde cantilever(1) gebruikt, die de bruikbaarheid aanzienlijk kan verbeteren. Bovendien worden deze instrumenten geleverd met een stuurautomaatfunctie die automatisch de meetparameters optimaliseert, de interactiekracht tussen de tip en het monster regelt en de scansnelheid aanpast, waardoor menselijke fouten worden verminderd. Daarom kan betrouwbare en consistente data-acquisitie gemakkelijk worden gerealiseerd. Het systeem ondersteunt ook meerpuntsmetingen met een recept, waardoor geautomatiseerde gegevensverzameling en -opslag gedurende het hele meetproces met slechts een enkele klik mogelijk is, waardoor de totale doorvoer drastisch kan worden verhoogd.

2. Verbeterde correlatie met SEM . van Hitachi High-Tech

De optionele AFM-markeringsfunctie maakt gebruik van de oorspronkelijk ontwikkelde S?Mic-oplossing van Hitachi High-Tech. S?Mic (Scanning Atomic and Electron Microscopy) is een gecorreleerde beeldvormingstechniek die de compatibiliteit tussen AFM en Scanning Electron Microscopes (SEM) verbetert. In het bijzonder kunnen zowel de AFM als de SEM worden gebruikt om het monster op dezelfde locaties te onderzoeken, wat een platformonafhankelijke, veelzijdige analytische benadering mogelijk maakt om uitgebreide karakteriseringen van mechanische, elektrische en compositorische eigenschappen van het monster te bereiken.

3. Schaalbaar en duurzaam

Het systeem wordt standaard geleverd met een levenslange gratis download van nieuwe besturingssoftware en een zelfcontrolefunctie die automatisch de oorzaak van storingen kan diagnosticeren, wat bijdraagt ​​aan een lange levensduur voor gebruikers. Hierdoor kunnen gebruikers hun apparatuur up-to-date houden en op het hoogste niveau presteren.

Hitachi High-Tech zet zich in om innovatieve oplossingen zoals deze AFM-producten te ontwikkelen, samen met onze klanten sociale en ecologische waarden te creëren en bij te dragen aan geavanceerde productie.

(1) Voorgemonteerde cantilever: deze methode gebruikt een cassettechip met een vooraf geïnstalleerde cantilever voor hefboommontage.

Bron: https://www.jcnnewswire.com/pressrelease/67387/3/