Hitachi High-Tech lanserer brukervennlige AFM100 og AFM100 Plus Atomic Force Microscopes

TOKYO, 17. juni 2021 – (JCN Newswire) – Hitachi High-Tech Corporation kunngjorde lanseringen av både AFM100 og AFM100 Plus-systemer – inngangs- og mellomnivåmodeller av Hitachis kompakte og allsidige Atomic Force Microscopes (AFM). Disse verktøyene er utviklet for å tilby brukervennlighet og overlegen pålitelighet for høykapasitets FoU- eller kvalitetskontrollapplikasjoner.

AFM100 Plus

AFM er en type Scanning Probe Microscope (SPM) som skanner overflaten av en prøve ved å bruke en skarp spiss, vanligvis med en radius på noen få nanometer (1 nanometer = 1/1,000,000 XNUMX XNUMX millimeter). AFM kan gi både høyoppløselig visualisering av overflatemorfologi og samtidig kartlegging av forskjellige andre fysiske egenskaper på nanoskala. Derfor brukes AFM intensivt til vitenskapelig forskning og utvikling, samt kvalitetskontroll på tvers av et bredt spekter av industrielle felt, som å undersøke batterimaterialer, halvledere, polymerer, levende organismer, etc.

Konvensjonell AFM-drift kan være ganske tidkrevende og krevende. Arbeidsflyten inneholder noen obligatoriske trinn som å laste inn en liten utkrager (ca. 1 mm bred) manuelt med en pinsett til målstedet, bestemme riktig samhandlingskraft mellom spissen og prøven samt justere skannehastigheten, som alle kan involvere frem og tilbake forsøk. Som et resultat var den totale gjennomstrømningen fra starten av verktøyoppsettet til slutten av datainnsamlingen relativt lav. I tillegg kan både kvaliteten og påliteligheten til innhentede AFM-data variere betydelig fra person til person siden valg av passende type utkrager og optimalisering av en rekke bildeparametere er svært avhengig av operatørens erfaring og ferdighetsnivåer.

AFM100 og AFM100 Plus utviklet av Hitachi High-Tech adresserer disse problemene og tar sikte på å øke utvidelsen av AFM-teknologi innen industrielle, vitenskapelige og forsknings- og utviklingsfelt. Både AFM100 og AFM100 Plus gjør ekstrem brukervennlighet og sikrer operatør-til-operatør konsistens. Spesielt kan AFM100 Plus brukes i en lang rekke bruksområder, inkludert høyoppløselig bildebehandling av nanomaterialer som grafen og karbon nanofibre, 3D-formobservasjon over brede områder som overstiger 0.1 mm, ruhetsanalyse og fysiske egenskapsevalueringer.

De viktigste fordelene med disse produktene er som følger:

1. Forbedret brukervennlighet, pålitelighet og total gjennomstrømning

For å gjøre lasting/lossing av utkrager mye enklere, er det tatt i bruk en nyutviklet forhåndsmontert utkrager(1), og den kan forbedre brukervennligheten betydelig. I tillegg kommer disse instrumentene med en autopilotfunksjon som automatisk optimerer måleparametere, kontrollerer interaksjonskraften mellom spissen og prøven, og justerer skannehastigheten, og dermed reduserer menneskelige feil. Derfor kan pålitelig og konsistent datainnsamling lett realiseres. Systemet støtter også flerpunktsmåling med en oppskrift, som muliggjør automatisert datainnsamling og lagring gjennom hele måleprosessen bare ved et enkelt klikk, og dermed kan den totale gjennomstrømningen økes dramatisk.

2. Forbedret korrelasjon med Hitachi High-Techs SEM

Den valgfrie AFM-merkefunksjonen bruker Hitachi High-Techs opprinnelig utviklede S?Mic-løsning. S?Mic (Scanning Atomic and Electron Microscopy) er en korrelert bildebehandlingsteknikk som forbedrer kompatibiliteten mellom AFM og Scanning Electron Microscopes (SEM). Spesifikt kan både AFM og SEM brukes til å undersøke prøven på de samme stedene, noe som muliggjør en tverrplattform, mangefasettert analytisk tilnærming for å oppnå omfattende karakteriseringer av prøvens mekaniske, elektriske og komposisjonsegenskaper.

3. Skalerbar og holdbar

Systemet leveres med levetid gratis nedlasting av ny kontrollprogramvare og en selvsjekkingsfunksjon som automatisk kan diagnostisere grunnårsaken til funksjonsfeil som standard, noe som bidrar til lang levetid for brukerne. Dette lar brukerne holde utstyret sitt oppdatert og yte på sitt høyeste nivå.

Hitachi High-Tech er forpliktet til å utvikle innovative løsninger som disse AFM-produktene, skape sosiale og miljømessige verdier sammen med kundene våre, samt å bidra til banebrytende produksjon.

(1) Forhåndsmontert utkrager: Denne metoden bruker en kassettbrikke med en forhåndsinstallert utkrager for spakmontering.

Kilde: https://www.jcnnewswire.com/pressrelease/67387/3/