Hitachi High-Tech lança os microscópios de força atômica AFM100 e AFM100 Plus fáceis de usar

TÓQUIO, 17 de junho de 2021 - (JCN Newswire) - A Hitachi High-Tech Corporation anunciou o lançamento dos sistemas AFM100 e AFM100 Plus - modelos de nível básico e intermediário dos compactos e versáteis Microscópios de Força Atômica (AFM) da Hitachi. Essas ferramentas são projetadas para oferecer facilidade de uso e confiabilidade superior para P&D de alto rendimento ou aplicações de controle de qualidade.

AFM100 Plus

O AFM é um tipo de microscópio de sonda de varredura (SPM) que faz a varredura da superfície de uma amostra usando uma ponta afiada, normalmente com um raio de alguns nanômetros (1 nanômetro = 1 / 1,000,000 milímetro). O AFM pode fornecer visualização de alta resolução da morfologia da superfície e mapeamento simultâneo de várias outras propriedades físicas em nanoescala. Portanto, o AFM é intensamente usado para pesquisa e desenvolvimento científico, bem como controle de qualidade em uma ampla gama de campos industriais, como o exame de materiais de baterias, semicondutores, polímeros, organismos vivos, etc.

A operação convencional do AFM pode ser bastante demorada e exigente. O fluxo de trabalho contém algumas etapas obrigatórias, como carregar um pequeno cantilever (aproximadamente 1 mm de largura) manualmente com uma pinça no local de destino, determinar a força de interação certa entre a ponta e a amostra, bem como ajustar a velocidade de digitalização, todos os quais podem envolvem tentativas para frente e para trás. Como resultado, o rendimento geral desde o início da configuração da ferramenta até o final da aquisição de dados foi relativamente baixo. Além disso, a qualidade e a confiabilidade dos dados adquiridos de AFM podem variar significativamente de pessoa para pessoa, uma vez que a seleção de um tipo apropriado de cantiléver e a otimização de uma série de parâmetros de imagem dependem muito da experiência e dos níveis de habilidade do operador.

O AFM100 e o AFM100 Plus desenvolvidos pela Hitachi High-Tech abordam essas questões e visam aumentar a expansão da tecnologia AFM nos campos industrial, científico e de pesquisa e desenvolvimento. Tanto o AFM100 quanto o AFM100 Plus oferecem extrema facilidade de uso e garantem consistência de operador para operador. Particularmente, o AFM100 Plus pode ser utilizado em uma ampla variedade de aplicações, incluindo imagens de alta resolução de nanomateriais, como grafeno e nanofibras de carbono, observação de formas 3D em áreas amplas que excedem 0.1 mm, análise de rugosidade e avaliações de propriedades físicas.

Os principais benefícios desses produtos são os seguintes:

1. Melhor usabilidade, confiabilidade e rendimento total

Para tornar o carregamento / descarregamento do cantilever muito mais fácil, um cantilever pré-montado recém-desenvolvido (1) foi adotado e pode melhorar significativamente a usabilidade. Além disso, esses instrumentos vêm com uma função de piloto automático que otimiza automaticamente os parâmetros de medição, controla a força de interação entre a ponta e a amostra e ajusta a velocidade de varredura, reduzindo assim os erros humanos. Portanto, a aquisição de dados confiáveis ​​e consistentes pode ser realizada prontamente. O sistema também oferece suporte à medição de vários pontos com uma receita, o que permite a coleta e o armazenamento automatizados de dados em todo o processo de medição com apenas um clique, portanto, o rendimento total pode ser aumentado drasticamente.

2. Correlação aprimorada com SEM da Hitachi High-Tech

A função opcional de marcação AFM usa a solução S? Mic desenvolvida originalmente pela Hitachi High-Tech. S? Mic (Microscopia Atômica e Eletrônica de Varredura) é uma técnica de imagem correlacionada que melhora a compatibilidade entre AFM e Microscópios Eletrônicos de Varredura (SEM). Especificamente, tanto o AFM quanto o SEM podem ser usados ​​para examinar a amostra nos mesmos locais, o que permite uma abordagem analítica multifacetada de plataforma cruzada para atingir caracterizações abrangentes das propriedades mecânicas, elétricas e composicionais da amostra.

3. Escalável e durável

O sistema vem com o download gratuito vitalício de um novo software de controle e uma função de autoverificação que pode diagnosticar automaticamente a causa raiz de defeitos como padrão, contribuindo para uma longa vida útil para os usuários. Isso permite que os usuários mantenham seus equipamentos atualizados e com o mais alto nível de desempenho.

A Hitachi High-Tech está comprometida em desenvolver soluções inovadoras como esses produtos AFM, criando valores sociais e ambientais junto com nossos clientes, além de contribuir para a fabricação de ponta.

(1) Cantilever pré-montado: Este método usa um chip de cassete com um cantilever pré-instalado para montagem da alavanca.

Fonte: https://www.jcnnewswire.com/pressrelease/67387/3/