Hitachi High-Tech ra mắt Kính hiển vi lực nguyên tử AFM100 và AFM100 Plus dễ sử dụng PlatoBlockchain Data Intelligence. Tìm kiếm dọc. Ái.

Công nghệ cao của Hitachi ra mắt Kính hiển vi lực nguyên tử AFM100 và AFM100 Plus dễ sử dụng

TOKYO, ngày 17 tháng 2021 năm 100 – (JCN Newswire) – Tập đoàn Công nghệ cao Hitachi đã công bố ra mắt cả hệ thống AFM100 và AFMXNUMX Plus – các mẫu cấp cơ bản và cấp trung cấp của Kính hiển vi lực nguyên tử (AFM) nhỏ gọn và linh hoạt của Hitachi. Những công cụ này được thiết kế để mang lại sự dễ sử dụng và độ tin cậy vượt trội cho các ứng dụng R&D hoặc kiểm soát chất lượng thông lượng cao.

Hitachi High-Tech ra mắt Kính hiển vi lực nguyên tử AFM100 và AFM100 Plus dễ sử dụng PlatoBlockchain Data Intelligence. Tìm kiếm dọc. Ái.
AFM100 Plus

AFM là một loại Kính hiển vi đầu dò quét (SPM) quét bề mặt của mẫu bằng cách sử dụng một đầu nhọn thường có bán kính vài nanomet (1 nanomet = 1 / 1,000,000 milimet). AFM có thể cung cấp cả hình ảnh độ phân giải cao về hình thái bề mặt và lập bản đồ đồng thời các đặc tính vật lý khác nhau ở quy mô nano. Do đó, AFM được sử dụng rộng rãi cho nghiên cứu và phát triển khoa học, cũng như kiểm soát chất lượng trong nhiều lĩnh vực công nghiệp, chẳng hạn như kiểm tra vật liệu pin, chất bán dẫn, polyme, sinh vật sống, v.v.

Hoạt động AFM thông thường có thể tốn khá nhiều thời gian và đòi hỏi khắt khe. Quy trình làm việc bao gồm một số bước bắt buộc như tải thủ công một công xôn nhỏ (rộng khoảng 1 mm) bằng nhíp đến vị trí mục tiêu, xác định lực tương tác phù hợp giữa đầu và mẫu cũng như điều chỉnh tốc độ quét, tất cả đều có thể liên quan đến các thử nghiệm qua lại. Do đó, thông lượng tổng thể từ khi bắt đầu thiết lập công cụ đến khi kết thúc thu thập dữ liệu là tương đối thấp. Ngoài ra, cả chất lượng và độ tin cậy của dữ liệu AFM thu được có thể khác nhau đáng kể tùy theo từng người do việc chọn loại công xôn thích hợp và tối ưu hóa một loạt thông số hình ảnh phụ thuộc rất nhiều vào kinh nghiệm và trình độ kỹ năng của người vận hành.

AFM100 và AFM100 Plus do Hitachi High-Tech phát triển giải quyết những vấn đề này và nhằm mục đích tăng cường mở rộng công nghệ AFM trong các lĩnh vực công nghiệp, khoa học và nghiên cứu và phát triển. Cả AFM100 và AFM100 Plus đều mang lại cảm giác cực kỳ dễ sử dụng và đảm bảo tính nhất quán giữa người vận hành. Đặc biệt, AFM100 Plus có thể được sử dụng trong nhiều ứng dụng khác nhau, bao gồm chụp ảnh độ phân giải cao của vật liệu nano như graphene và sợi nano carbon, quan sát hình dạng 3D trên các khu vực rộng hơn 0.1 mm, phân tích độ nhám và đánh giá tính chất vật lý.

Những lợi ích chính của các sản phẩm này như sau:

1. Cải thiện khả năng sử dụng, độ tin cậy và tổng thông lượng

Để làm cho công tác nạp / dỡ công xôn dễ dàng hơn nhiều, công cụ đúc trước (1) mới được phát triển đã được áp dụng và nó có thể cải thiện đáng kể khả năng sử dụng. Ngoài ra, các thiết bị này còn có chức năng lái tự động giúp tự động tối ưu hóa các thông số đo lường, kiểm soát lực tương tác giữa đầu đo và mẫu, điều chỉnh tốc độ quét, do đó giảm thiểu sai sót của con người. Do đó, việc thu thập dữ liệu nhất quán và đáng tin cậy có thể được thực hiện một cách dễ dàng. Hệ thống cũng hỗ trợ đo đa điểm với một công thức, cho phép thu thập và lưu trữ dữ liệu tự động trong toàn bộ quá trình đo chỉ bằng một cú nhấp chuột, do đó tổng thông lượng có thể tăng lên đáng kể.

2. Tăng cường tương quan với SEM của Hitachi High-Tech

Chức năng đánh dấu AFM tùy chọn sử dụng giải pháp S?Mic được phát triển ban đầu của Hitachi High-Tech. S?Mic (Kính hiển vi nguyên tử quét và kính hiển vi điện tử) là một kỹ thuật hình ảnh tương quan giúp cải thiện khả năng tương thích giữa AFM và Kính hiển vi điện tử quét (SEM). Cụ thể, cả AFM và SEM đều có thể được sử dụng để kiểm tra mẫu tại cùng một vị trí, điều này cho phép phương pháp phân tích đa nền tảng, nhiều mặt để đạt được các đặc tính toàn diện về các đặc tính cơ, điện và thành phần của mẫu.

3. Có thể mở rộng và bền

Hệ thống đi kèm với việc tải xuống miễn phí trọn đời phần mềm điều khiển mới và chức năng tự kiểm tra có thể tự động chẩn đoán nguyên nhân gốc rễ của sự cố theo tiêu chuẩn, góp phần kéo dài tuổi thọ cho người dùng. Điều này cho phép người dùng luôn cập nhật thiết bị của họ và hoạt động ở mức cao nhất.

Hitachi High-Tech cam kết phát triển các giải pháp sáng tạo như các sản phẩm AFM này, tạo ra các giá trị xã hội và môi trường cùng với khách hàng của chúng tôi, cũng như đóng góp vào sản xuất tiên tiến.

(1) Công xôn lắp trước: Phương pháp này sử dụng một chip cassette với công xôn lắp sẵn để lắp đòn bẩy.

Nguồn: https://www.jcnnewswire.com/pressrelease/67387/3/

Dấu thời gian:

Thêm từ Bản tin JCN