东京，17 年 2021 月 100 日 – (JCN 新闻专线) – 日立高新技术公司宣布推出 AFM100 和 AFMXNUMX Plus 系统——日立紧凑型多功能原子力显微镜 (AFM) 的入门级和中级型号。 这些工具旨在为高通量研发或质量控制应用提供易用性和卓越的可靠性。
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| AFM100 Plus |
AFM 是扫描探针显微镜 (SPM) 的一种，它使用半径通常为几纳米（1 纳米 = 1/1,000,000 毫米）的锋利尖端扫描样品表面。 AFM 可以提供表面形态的高分辨率可视化以及纳米级各种其他物理特性的同步映射。 因此，AFM 广泛用于科学研究和开发以及广泛工业领域的质量控制，例如检查电池材料、半导体、聚合物、生物体等。
传统的 AFM 操作可能非常耗时且要求较高。 该工作流程包含一些强制性步骤，例如用镊子手动将微小悬臂（约 1 毫米宽）加载到目标位置，确定尖端与样品之间的正确相互作用力以及调整扫描速度，所有这些都可以涉及来回试验。 因此，从工具设置开始到数据采集结束的总体吞吐量相对较低。 此外，所采集的 AFM 数据的质量和可靠性因人而异，因为选择合适类型的悬臂和优化一系列成像参数在很大程度上取决于操作员的经验和技能水平。
日立高新技术开发的AFM100和AFM100 Plus解决了这些问题，旨在加大AFM技术在工业、科学和研发领域的扩展。 AFM100 和 AFM100 Plus 都非常易于使用，并确保操作员之间的一致性。 特别是，AFM100 Plus 可用于多种应用，包括石墨烯和碳纳米纤维等纳米材料的高分辨率成像、超过 3 mm 的大面积 0.1D 形状观察、粗糙度分析和物理性能评估。
这些产品的主要优点如下：
1. 提高可用性、可靠性和总吞吐量
为了使悬臂装卸更加容易，采用了新开发的预装悬臂（1），可显着提高可用性。 此外，这些仪器还具有自动驾驶功能，可自动优化测量参数，控制针尖与样品之间的相互作用力，并调整扫描速度，从而减少人为错误。 因此，可以轻松实现可靠且一致的数据采集。 该系统还支持配方多点测量，只需单击一下即可实现整个测量过程的自动数据收集和存储，从而显着提高总吞吐量。
2. 与日立高新技术的SEM的关联性增强
可选的AFM打标功能采用日立高新技术原创开发的S?Mic解决方案。 S?Mic（扫描原子和电子显微镜）是一种相关成像技术，可提高 AFM 和扫描电子显微镜 (SEM) 之间的兼容性。 具体来说，AFM 和 SEM 都可以用于在同一位置检查样品，这使得跨平台、多方面的分析方法能够实现样品的机械、电气和成分特性的全面表征。
3. 可扩展和耐用
系统标配终身免费下载新控制软件，并标配自动诊断故障根源的自检功能，有助于延长用户的使用寿命。 这使用户能够使他们的设备保持最新状态并发挥最高水平。
日立高新技术致力于开发这些 AFM 产品等创新解决方案，与客户一起创造社会和环境价值，并为尖端制造做出贡献。
(1) 预装悬臂：该方法使用带有预装悬臂的盒式芯片进行杠杆安装。
