Hitachi High-Tech toob turule hõlpsasti kasutatavad aatomijõumikroskoobid AFM100 ja AFM100 Plus

TOKYO, Jun 17, 2021 – (JCN Newswire) – Hitachi High-Tech Corporation announced the launch of both AFM100 and AFM100 Plus systems – entry-level and intermediate-level models of Hitachi’s compact and versatile Atomic Force Microscopes (AFM). These tools are designed to offer ease of use and superior reliability for high-throughput R&D or quality control applications.

AFM100 Plus

AFM on skaneeriva sondi mikroskoobi (SPM) tüüp, mis skaneerib proovi pinda terava otsaga, mille raadius on tavaliselt mõni nanomeeter (1 nanomeeter = 1/1,000,000 XNUMX XNUMX millimeetrit). AFM võib pakkuda nii pinna morfoloogia kõrge eraldusvõimega visualiseerimist kui ka erinevate muude füüsikaliste omaduste samaaegset kaardistamist nanomõõtmes. Seetõttu kasutatakse AFM-i intensiivselt teaduslikuks uurimis- ja arendustegevuseks, samuti kvaliteedikontrolliks paljudes tööstusvaldkondades, näiteks akumaterjalide, pooljuhtide, polümeeride, elusorganismide jms uurimiseks.

Conventional AFM operation could be quite time consuming and demanding. The workflow contains some mandatory steps such as loading a tiny cantilever (approximately 1 mm wide) manually with a tweezer to the target location, determining the right interaction force between the tip and the sample as well as adjusting the scan speed, all of which may involve back and forth trials. As a result, the overall throughput from the start of tool setup to the end of data acquisition was relatively low. In addition, both quality and reliability of acquired AFM data can vary significantly from person to person since selecting an appropriate type of cantilevers and optimizing an array of imaging parameters are highly dependent on operator’s experience and skill levels.

Hitachi High-Techi välja töötatud AFM100 ja AFM100 Plus tegelevad nende probleemidega ja nende eesmärk on suurendada AFM-tehnoloogia laienemist tööstus-, teadus- ning uurimis- ja arendustegevuse valdkondades. Nii AFM100 kui ka AFM100 Plus muudavad kasutuse äärmiselt lihtsaks ja tagavad operaatoritevahelise järjepidevuse. Eelkõige saab AFM100 Plusi kasutada paljudes rakendustes, sealhulgas nanomaterjalide, nagu grafeen ja süsinik-nanokiud, kõrge eraldusvõimega pildistamisel, 3D-kujulisel vaatlusel laiadel, üle 0.1 mm aladel, kareduse analüüsil ja füüsikaliste omaduste hindamisel.

Nende toodete peamised eelised on järgmised:

1. Parem kasutatavus, töökindlus ja kogu läbilaskevõime

Konsoolide laadimise/mahalaadimise palju lihtsamaks muutmiseks on kasutusele võetud äsja väljatöötatud eelmonteeritud konsool(1), mis võib oluliselt parandada kasutatavust. Lisaks on neil instrumentidel autopiloodi funktsioon, mis optimeerib automaatselt mõõtmisparameetreid, juhib otsa ja proovi vahelist vastasmõju ning reguleerib skaneerimiskiirust, vähendades nii inimlikke vigu. Seetõttu saab hõlpsasti teostada usaldusväärset ja järjepidevat andmete kogumist. Süsteem toetab ka mitmepunktilist mõõtmist retseptiga, mis võimaldab automaatset andmete kogumist ja salvestamist kogu mõõtmisprotsessi jooksul vaid ühe klõpsuga, seega saab kogu läbilaskevõimet järsult suurendada.

2. Enhanced correlation with Hitachi High-Tech’s SEM

The optional AFM marking function uses Hitachi High-Tech’s originally developed S?Mic solution. S?Mic (Scanning Atomic and Electron Microscopy) is a correlated imaging technique that improves compatibility between AFM and Scanning Electron Microscopes (SEM). Specifically, both the AFM and SEM can be used to examine the sample at the same locations, which enables a cross-platform, multifaceted analytical approach to achieve comprehensive characterizations of mechanical, electrical, and compositional properties of the sample.

3. Skaleeritav ja vastupidav

Süsteemiga on kaasas uue juhtimistarkvara eluaegne tasuta allalaadimine ja enesekontrolli funktsioon, mis suudab standardvarustuses automaatselt diagnoosida rikete algpõhjuseid, mis aitab kaasa kasutajate pikale kasutuseale. See võimaldab kasutajatel hoida oma seadmeid ajakohasena ja töökorras kõrgeimal tasemel.

Hitachi High-Tech on pühendunud uuenduslike lahenduste, nagu need AFM-i tooted, väljatöötamisele, sotsiaalsete ja keskkonnaväärtuste loomisele koos klientidega ning tipptasemel tootmisse panustamisele.

(1) Eelmonteeritud konsool: selle meetodi puhul kasutatakse hoovaga kinnitamiseks kassettkiipi koos eelinstallitud konsooliga.

Allikas: https://www.jcnnewswire.com/pressrelease/67387/3/