최대 얽힌 상태 및 단일 투영 측정을 위한 일정한 크기의 자체 테스트

최대 얽힌 상태 및 단일 투영 측정을 위한 일정한 크기의 자체 테스트

최대 얽힌 상태 및 단일 투영 측정을 위한 일정한 크기의 자체 테스트 PlatoBlockchain Data Intelligence. 수직 검색. 일체 포함.

주리 볼치치

펜실베니아주 드렉셀 대학교 수학과

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자체 테스트는 측정된 고전 통계에 의존하는 양자 시스템의 강력한 인증입니다. 이 문서에서는 입력 및 출력 수가 적지만 양자 상태 및 임의로 큰 차원의 측정을 사용하는 이분 벨 시나리오의 자체 테스트를 고려합니다. 기여는 두 가지입니다. 첫째, 최대로 얽힌 모든 상태는 당사자당 2021개의 이진 측정을 통해 자체 테스트될 수 있음이 나타났습니다. 이 결과는 홀수 차원의 최대 얽힌 상태에만 적용되는 Mančinska-Prakash-Schafhauser(XNUMX)의 초기 작업을 확장합니다. 둘째, 모든 단일 이진 투영 측정은 당사자당 XNUMX개의 이진 측정을 사용하여 자체 테스트할 수 있는 것으로 나타났습니다. 출력이 XNUMX개 이상인 투영 측정의 자체 테스트에도 비슷한 설명이 적용됩니다. 이러한 결과는 항등식의 스칼라 배수에 추가되는 XNUMX중 투영의 표현 이론에 의해 가능해졌습니다. 환원 불가능한 표현의 구조, 스펙트럼 특징 분석 및 사후 자체 테스트는 적은 수의 입력 및 출력으로 새로운 자체 테스트를 구성하기 위한 기본 방법입니다.

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위의 인용은 SAO / NASA ADS (마지막으로 성공적으로 업데이트 됨 2024-03-23 10:25:56). 모든 출판사가 적절하고 완전한 인용 데이터를 제공하지는 않기 때문에 목록이 불완전 할 수 있습니다.

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