Hitachi High-Tech lansează microscoapele de forță atomică AFM100 și AFM100 Plus ușor de utilizat

TOKYO, Jun 17, 2021 – (JCN Newswire) – Hitachi High-Tech Corporation announced the launch of both AFM100 and AFM100 Plus systems – entry-level and intermediate-level models of Hitachi’s compact and versatile Atomic Force Microscopes (AFM). These tools are designed to offer ease of use and superior reliability for high-throughput R&D or quality control applications.

AFM100 Plus

AFM este un tip de microscop cu sondă de scanare (SPM) care scanează suprafața unei probe folosind un vârf ascuțit, de obicei, cu o rază de câțiva nanometri (1 nanometru = 1/1,000,000 de milimetru). AFM poate oferi atât vizualizarea de înaltă rezoluție a morfologiei suprafeței, cât și cartografierea simultană a diferitelor alte proprietăți fizice la scară nanometrică. Prin urmare, AFM este utilizat intensiv pentru cercetarea și dezvoltarea științifică, precum și pentru controlul calității într-o gamă largă de domenii industriale, cum ar fi examinarea materialelor bateriilor, semiconductorilor, polimerilor, organismelor vii etc.

Conventional AFM operation could be quite time consuming and demanding. The workflow contains some mandatory steps such as loading a tiny cantilever (approximately 1 mm wide) manually with a tweezer to the target location, determining the right interaction force between the tip and the sample as well as adjusting the scan speed, all of which may involve back and forth trials. As a result, the overall throughput from the start of tool setup to the end of data acquisition was relatively low. In addition, both quality and reliability of acquired AFM data can vary significantly from person to person since selecting an appropriate type of cantilevers and optimizing an array of imaging parameters are highly dependent on operator’s experience and skill levels.

AFM100 și AFM100 Plus dezvoltate de Hitachi High-Tech abordează aceste probleme și urmăresc să crească extinderea tehnologiei AFM în domeniile industrial, științific și de cercetare și dezvoltare. Atât AFM100, cât și AFM100 Plus asigură o ușurință extremă de utilizare și asigură consistența de la operator la operator. În special, AFM100 Plus poate fi utilizat într-o mare varietate de aplicații, inclusiv imagistica de înaltă rezoluție a nanomaterialelor, cum ar fi grafenul și nanofibrele de carbon, observarea formei 3D pe suprafețe largi care depășesc 0.1 mm, analiza rugozității și evaluările proprietăților fizice.

Principalele beneficii ale acestor produse sunt următoarele:

1. Utilizare, fiabilitate și debit total îmbunătățite

Pentru a face încărcarea/descărcarea în consolă mult mai ușoară, a fost adoptată o consolă premontată recent dezvoltată (1) și poate îmbunătăți semnificativ gradul de utilizare. În plus, aceste instrumente vin cu o funcție de pilot automat care optimizează automat parametrii de măsurare, controlează forța de interacțiune dintre vârf și probă și ajustează viteza de scanare, reducând astfel erorile umane. Prin urmare, achiziția de date fiabilă și consecventă poate fi realizată cu ușurință. Sistemul acceptă, de asemenea, măsurarea în mai multe puncte cu o rețetă, care permite colectarea și stocarea automată a datelor pe parcursul întregului proces de măsurare doar printr-un singur clic, astfel încât debitul total poate fi crescut dramatic.

2. Enhanced correlation with Hitachi High-Tech’s SEM

The optional AFM marking function uses Hitachi High-Tech’s originally developed S?Mic solution. S?Mic (Scanning Atomic and Electron Microscopy) is a correlated imaging technique that improves compatibility between AFM and Scanning Electron Microscopes (SEM). Specifically, both the AFM and SEM can be used to examine the sample at the same locations, which enables a cross-platform, multifaceted analytical approach to achieve comprehensive characterizations of mechanical, electrical, and compositional properties of the sample.

3. Scalabil și durabil

Sistemul vine cu descărcarea gratuită pe viață a noului software de control și o funcție de auto-verificare care poate diagnostica automat cauza principală a defecțiunilor în mod standard, contribuind la o durată de viață lungă pentru utilizatori. Acest lucru le permite utilizatorilor să-și mențină echipamentul la zi și să funcționeze la cel mai înalt nivel.

Hitachi High-Tech se angajează să dezvolte soluții inovatoare precum aceste produse AFM, să creeze valori sociale și de mediu împreună cu clienții noștri, precum și să contribuie la producția de ultimă generație.

(1) Consolă premontată: Această metodă utilizează un cip casetă cu o consolă preinstalată pentru montarea pârghiei.

Sursă: https://www.jcnnewswire.com/pressrelease/67387/3/