Join the audience for a live webinar at 3 p.m. GMT/10 a.m. EST on 16 November 2023 exploring reliable device characterization
اس ویبینار میں حصہ لینا چاہتے ہیں؟
Device and materials characterization can be challenging, especially when dealing with low-level source and measurement values. This is particularly the case when characterizing low-resistance/superconductive samples, high-resistance materials, and samples with large differences in states, like topological insulating materials.
This webinar will introduce practical steps that can ensure high-quality and repeatable measurements.
عنوانات میں شامل ہوں گے:
- Proper wiring, guarding, and shielding
- Similarities and differences between AC/lock-in and DC measurement techniques
- Filtering and its effects on data
- Key factors for successful measurements at cryogenic temperatures
- Single-ended vs. differential measurements
اس ویبینار میں حصہ لینا چاہتے ہیں؟
Jason Chonko is a business development manager with Lake Shore Cryotronics. A 1998 graduate of Kent State University with a BSci in physics, he started his career as a lab technician at the university’s Liquid Crystal Institute, then worked at several optical startups as a staff engineer dealing with the challenges of research and design. Most of his 25-plus years in the industry have been spent as an Applications Engineer and marketer for several general-purpose test and measurement companies, with the goal of always helping customers get the most out of their instrumentation. With Lake Shore, he specializes in electrical device characterization systems, often performing technical analysis of customer applications to aid in product selection.
- SEO سے چلنے والا مواد اور PR کی تقسیم۔ آج ہی بڑھا دیں۔
- پلیٹو ڈیٹا ڈاٹ نیٹ ورک ورٹیکل جنریٹو اے آئی۔ اپنے آپ کو بااختیار بنائیں۔ یہاں تک رسائی حاصل کریں۔
- پلیٹوآئ اسٹریم۔ ویب 3 انٹیلی جنس۔ علم میں اضافہ۔ یہاں تک رسائی حاصل کریں۔
- پلیٹو ای ایس جی۔ کاربن، کلین ٹیک، توانائی ، ماحولیات، شمسی، ویسٹ مینجمنٹ یہاں تک رسائی حاصل کریں۔
- پلیٹو ہیلتھ۔ بائیوٹیک اینڈ کلینیکل ٹرائلز انٹیلی جنس۔ یہاں تک رسائی حاصل کریں۔
- ماخذ: https://physicsworld.com/a/lower-noise-better-data-a-guide-to-reliable-device-characterization/
- : ہے
- ][p
- 16
- 1998
- 2023
- a
- ہوں
- امداد
- ہمیشہ
- an
- تجزیہ
- اور
- ایپلی کیشنز
- AS
- At
- سامعین
- BE
- رہا
- بہتر
- کے درمیان
- کاروبار
- کاروبار کی ترقی
- کر سکتے ہیں
- کیریئر کے
- کیس
- چیلنجوں
- چیلنج
- کلک کریں
- کمپنیاں
- کرسٹل
- گاہک
- گاہکوں
- اعداد و شمار
- dc
- معاملہ
- ڈیزائن
- ترقی
- آلہ
- اختلافات
- اثرات
- انجینئر
- کو یقینی بنانے کے
- خاص طور پر
- ایکسپلور
- عوامل
- کے لئے
- عام مقصد
- حاصل
- مقصد
- چلے
- رہنمائی
- ہے
- he
- مدد
- اعلی معیار کی
- ان
- HTTPS
- تصویر
- in
- شامل
- صنعت
- معلومات
- انسٹی ٹیوٹ
- متعارف کرانے
- مسئلہ
- میں
- فوٹو
- لیب
- جھیل
- بڑے
- کی طرح
- مائع
- رہتے ہیں
- کم
- مینیجر
- مواد
- زیادہ سے زیادہ چوڑائی
- پیمائش
- پیمائش
- سب سے زیادہ
- شور
- نومبر
- of
- اکثر
- on
- کھول
- باہر
- حصہ
- خاص طور پر
- کارکردگی کا مظاہرہ
- طبعیات
- طبیعیات کی دنیا
- پلاٹا
- افلاطون ڈیٹا انٹیلی جنس
- پلیٹو ڈیٹا
- عملی
- مصنوعات
- قابل اعتماد
- بار بار قابل
- تحقیق
- انتخاب
- کئی
- ماخذ
- مہارت دیتا ہے
- خرچ
- سٹاف
- شروع
- سترٹو
- حالت
- امریکہ
- مراحل
- کامیاب
- سسٹمز
- لے لو
- ٹیکنیکل
- تکنیکی تجزیہ
- ٹیسٹ
- کہ
- ۔
- ان
- تو
- اس
- تھمب نیل
- کرنے کے لئے
- یونیورسٹی
- اقدار
- vs
- webinar
- جب
- گے
- ساتھ
- کام کیا
- دنیا
- سال
- زیفیرنیٹ